|
|
IBIS Behavioral Models: マイクロンは長年IBISオープンフォーラムのメンバーであり、IBIS仕様を完全にサポートします。ほとんどのマイクロン社製品のIBISモデルはマイクロン社ウェブサイトからダウンロードできます。
|
TN-00-07
|
11/2009
|
163.98 KB
|
テクニカルノート
|
|
|
Thermal Applications: マイクロンのコンポーネントおよびモジュールが最大許容温度を超えないようにするための一般方法や条件を定義します。
|
TN-00-08
|
05/2010
|
252.18 KB
|
テクニカルノート
|
|
|
Understanding Quality and Reliability Requirements for Bare Die Applications: ベアダイ アプリケーションに必要とされる品質や信頼性を定義します。
|
TN-00-14
|
10/2009
|
152.83 KB
|
テクニカルノート
|
|
|
Recommended Soldering Parameters: マイクロン テクノロジー製品に推奨されるはんだ付けテクニックやパラメータを定義します。
|
TN-00-15
|
03/2007
|
69.09 KB
|
テクニカルノート
|
|
|
Uprating of Semiconductors for High-Temperature Applications: 温度の改良やコンポーネント使用にかかわるリスク、製造元の環境仕様外のシステムに関連する問題を説明します。
|
TN-00-18
|
05/2010
|
428.33 KB
|
テクニカルノート
|
|
|
Understanding Signal Integrity: 新製品のコンセプトから製造中止を通じてメモリーデザインやテスト、確認ツールを最大限に利用する方法を説明します。
|
TN-00-20
|
12/2009
|
1.52 MB
|
テクニカルノート
|
|
|
SEMI Wafer Map Format: マイクロン社では半導体製造装置材料協会 (SEMI) によって認証されたウェハマップ ファイル形式を採用しています。マイクロン社のお客様はSEMI形式によって一貫して互換性が高く、信頼できるマップファイルを常に受け取ることができます。
|
TN-00-21
|
02/2009
|
110 KB
|
テクニカルノート
|
|
|
Thinning Considerations for Wafer Products: お客様の特定要件を満たす最適なウェハ細線化プロセスに関する情報です。
|
TN-00-19
|
10/2009
|
73.58 KB
|
テクニカルノート
|
|
|
Power-Saving Features of Mobile LPDRAM: Addresses the power-saving features and power calculations of low-power Mobile LPDRAM memory
|
TN-46-12
|
05/2009
|
255.93 KB
|
テクニカルノート
|
|
|
Mobile LPDDR Versus Standard DDR SDRAM: An overview of the functional and mechanical differences between low-power and standard DDR and a description of exclusive features of LPDDR
|
TN-46-15
|
12/2007
|
432.44 KB
|
テクニカルノート
|
|
|
Interface Design Guide for STMicroelectronics Cartesio Microprocessor: Guidelines for interconnecting the STA2062 dynamic bus controller to two Micron 512Mb Mobile LPDDR devices
|
TN-46-18
|
08/2008
|
2.67 MB
|
テクニカルノート
|
|
|
Mobile LPDRAM Unterminated Point-to-Point System Design:Layout and Routing Tips: Provides guidance for the development of multilayer board designs
|
TN-46-19
|
11/2008
|
552.55 KB
|
テクニカルノート
|
|
|
PCN/EOL Systems: マイクロン社製品の変更通知や製造中止システムについて説明します。
|
CSN-12
|
04/2012
|
79.21 KB
|
カスタマーサービスノート
|
|
|
Wafer Packaging and Packaging Materials: マイクロン社製品の発送に使用される各材料についての配送およびリサイクルに関する総合情報を提供します。
|
CSN-20
|
09/2011
|
776.24 KB
|
カスタマーサービスノート
|
|
|
Bare Die SiPs and MCMs: ベアダイSiPおよびMCMに対するデザインの考えを説明します。
|
CSN-18
|
04/2009
|
151.06 KB
|
カスタマーサービスノート
|
|
|
Shipping Quantities: 部品数の表を提供します。
|
CSN-04
|
04/2012
|
472.27 KB
|
カスタマーサービスノート
|
|
|
Micron KGD Definitions: マイクロン社製KGD-C1およびKGD-C2 DRAMダイのテスト仕様とパラメータを説明します。
|
CSN-22
|
07/2009
|
65.52 KB
|
カスタマーサービスノート
|
|
|
Micron Component and Module Packaging: マイクロン社のパッケージラベルと手順について説明します。
|
CSN-16
|
02/2012
|
887.13 KB
|
カスタマーサービスノート
|
|
|
ESD Precautions for Die/Wafer Handling and Assembly: 生産コストの削減に繋がる、作業環境においてESDを制御することのメリット(高い生産性や向上した品質と信頼性を含む)を説明します。
|
CSN-24
|
08/2010
|
119.08 KB
|
カスタマーサービスノート
|
|
|
Electronic Data Interchange: EDI送信セット、プロトコルおよび問い合わせ先を説明します。
|
CSN-06
|
09/2005
|
53.5 KB
|
カスタマーサービスノート
|
|
|
RMA Procedures for Packaged Product and Bare Die Devices: 標準の返品承認(RMA)手順と、ベアダイのRMAに関する違いをまとめています。
|
CSN-07
|
10/2010
|
82.64 KB
|
カスタマーサービスノート
|
|
|
ISO System Management Standards: ISOシステム管理基準について説明します。
|
CSN-08
|
04/2004
|
39.18 KB
|
カスタマーサービスノート
|
|
|
The Future of Memory and Storage: メインメモリとFlashメモリの傾向についての概要
|
|
12/2009
|
1.54 MB
|
プレゼンテーション
|
|
|
DRAM Component Part Numbering System: DDR3/DDR2/DDR/SDR SDRAM、 モバイルLPDRAMおよびRLDRAMコンポーネントの部品番号ガイド
|
|
04/2012
|
36.89 KB
|
製品番号ガイド
|
|
|
FBGA Date Codes: FBGA梱包済みコンポーネントの日付コード
|
|
08/2005
|
22.36 KB
|
製品番号ガイド
|
|
|
Moisture Absorption in Plastic Packages: Describes shipping procedures for preventing memory devices from absorbing moisture and recommendations for baking devices exposed to excessive moisture
|
TN-00-01
|
02/2010
|
87.26 KB
|
テクニカルノート
|
|
|
Accelerate Design Cycles with Simulation Models: マイクロンでは、レイアウトの前に新しいデザインを確認するのに必要なツールとガイドラインを提供します。本テクニカルノートではソフトウェア モデルのサポート、シグナル インテグリティの最適化および倫理回路デザインについて説明します。
|
TN-00-09
|
02/2010
|
206.91 KB
|
テクニカルノート
|
|
|
Micron Wire-Bonding Techniques: 本テクニカルノートでは、マイクロン社製品のニッケル パラジウム(NiPd)およびアルミニウム(Al)両方に対するワイヤボンディング テクニックのガイダンスを提供します。
|
TN-00-22
|
11/2010
|
66.13 KB
|
テクニカルノート
|
|
|
TN_4622_t69m_t79m_trans_guide: Transition guide for migration from T69M to T79M
|
|
06/2011
|
147.18 KB
|
テクニカルノート
|
|
|
Micron BGA Manufacturer's User Guide: 最新型および旧型両方のマイクロン社ボール グリッド アレイ(BGA)パッケージを製造プロセスに簡単に統合できる情報をお客様に提供します。通常のパッケージ関連および製造行程の実践を説明した高レベルなガイドラインと参照マニュアルがセットになっています。
|
CSN-33
|
07/2011
|
353.32 KB
|
カスタマーサービスノート
|
|
|
Product Marks/Product and Packaging Labels: 製品の部品マーキングと製品およびパッケージラベルについて説明します。
|
CSN-11
|
04/2012
|
724.89 KB
|
カスタマーサービスノート
|
|
|
Industrial and Multi-Market Applications Flyer: 自動車、産業、医療、製造およびその他の多数市場セグメントにおいて技術開発に拍車をかける当社の幅広く、安定したIMM集中型メモリソリューションのポートフォリオです。
|
製品広告チラシ
|
08/2011
|
593.95 KB
|
製品広告チラシ
|
|
|
Mobile LPDRAM Product Flyer: Discusses six key advantages of designing with Micron’s mobile LPDRAM.
|
製品広告チラシ
|
03/2012
|
510.17 KB
|
製品広告チラシ
|
|
|
Bypass Capacitor Selection for High-Speed Designs: 高速デザインに対するバイパス コンデンサの選択について説明します。
|
TN-00-06
|
03/2011
|
481.9 KB
|
テクニカルノート
|