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Functional Differences Between CellularRAM 1.0 and CellularRAM 1.5 : CellularRAM 1.0およびCellularRAM 1.5メモリ デバイスにおける機能の違いについて説明します。
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TN-45-01
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08/2005
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テクニカルノート
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CellularRAM Asynchronous and Mixed-Mode Slow-Clock WRITE Concerns: マイクロンCellularRAMベースのデバイスをミックスモード動作およびスロークロック速度で使用することについて説明します。
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TN-45-02
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05/2005
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テクニカルノート
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CellularRAM Multiplexed Async/Burst Operation: マルチプレックスされていないCellularRAM デバイスを回路基板レベルでマルチプレックス化することについて説明します。
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TN-45-04
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01/2009
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テクニカルノート
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Density Migration for x16 Burst Multiplexed PSRAM Introduction: バースト マルチプレックス デバイスを16Mbから64Mbに移行する際に計上するデザインの違いについて説明します。
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TN-45-06
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01/2006
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テクニカルノート
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Implementing CellularRAM 2.0, x32 with Two CellularRAM 1.5 x16 Devices: 2つのx16 CR 1.5デバイスのダイスタックを使ってx32 CR2.0 メモリ インターフェースをエミュレートする方法について説明します。
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TN-45-07
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12/2006
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テクニカルノート
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64Mb Async/Page CellularRAM P25A to P25Z Transition Guide: 非同期/ページMT45W4MW16P (P25A)を基にMT45W4MW16PC (P25Z)へのデザインの移行について説明します。
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TN-45-08
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10/2005
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テクニカルノート
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64Mb Burst CellularRAM P25A to P25Z Transition Guide: 非同期/ページ/バーストMT45W4MW16B (P25A)を基にMT45W4MW16BC (P25Z)へのデザインの移行について説明します。
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TN-45-09
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10/2005
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テクニカルノート
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Designing Applications with the x16 Burst A/D Multiplexed Interface: バースト非A/D MUXおよびバーストA/D MUX デバイスの違いについて説明します。
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TN-45-10
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11/2005
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テクニカルノート
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Using CellularRAM Memory to Replace UtRAM : 128Mb UtRAMデザイン (K1B2816B6M) からマイクロン128Mb CellularRAMメモリ (MT45W8MW16B) への移行をアシストします。ハードウェアとソフトウェア両方の変更を説明します。
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TN-45-13
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01/2006
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テクニカルノート
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Using CellularRAM Memory to Replace Fujitsu 3V FCRAM: マイクロンCellularRAMメモリを使ったFujitsu 3V FCRAMの交換について説明します。
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TN-45-14
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02/2006
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テクニカルノート
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Row Boundary Crossing Functionality in CellularRAMâ„¢ Memory: マイクロンCellularRAMメモリデバイスにおけるRBC機能について説明します。
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TN-45-15
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11/2009
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テクニカルノート
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Using CellularRAM Memory to Replace Fujitsu 1.8V FCRAM: マイクロンCellularRAMメモリを使ったFujitsu 1.8V FCRAMの交換について説明します。
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TN-45-16
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03/2006
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テクニカルノート
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Using CellularRAM Memory to Replace Single- and Dual-Chip Select SRAM: シングルもしくはデュアル チップ セレクトSRAMデザインのマイクロンCellularRAMメモリへの移行について説明します。ハードウェアとソフトウェア両方の変更を説明します。
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TN-45-17
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01/2007
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テクニカルノート
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Using CellularRAM Memory to Replace NEC Mobile Specified RAM (PD46128512): 128Mb NECモバイルRAMデザイン (PD46128512)のマイクロン128Mb CellularRAMメモリ (MT45W8MW16B) への移行について説明します。ハードウェアとソフトウェア両方の変更を説明します。
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TN-45-18
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03/2006
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テクニカルノート
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Low-Power Options for Async/Page CellularRAM: 非同期/ページCellularRAMメモリ デバイスでお客様が利用できる低電力オプションについて説明します。
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TN-45-20
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05/2006
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テクニカルノート
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Variable vs. Fixed Latency CellularRAM Operation: 本テクニカルノートでは、デザイナーがCellularRAM変数および固定レイテンシ動作の違いを理解できるようにアシストします。
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TN-45-22
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07/2006
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テクニカルノート
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Using CellularRAM Memory on a NOR FLASH Bus: NOR FlashバスでCellularRAMメモリ デバイスを交換する場合におけるデザインについての考慮を説明します。
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TN-45-23
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07/2006
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テクニカルノート
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Fixed-Latency Operation in CellularRAM 1.0 Devices: マイクロン社がCellularRAM CR1.0の機能をどのように強化したかの詳細を説明します。
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TN-45-24
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08/2006
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テクニカルノート
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Using Micron Asynchronous PSRAM with ADI ADSP-BF53x Blackfin Processors: アナログ デバイスBlackfinプロセッサおよびマイクロン70ns、8Mb非同期PSRAMデバイス間のシームレスなメモリ接続に必要なデザイン条件を説明します。
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TN-45-27
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06/2007
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テクニカルノート
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Using a Micron CellularRAM Device with the AMCC PPC405EZ Embedded Processor: PPC405EZおよびマイクロンCellularRAMデバイス間のシームレスなメモリ接続に必要なデザイン条件を説明します。
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TN-45-28
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02/2006
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テクニカルノート
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Using Micron Asynchronous PSRAM with the NXP LPC2292 and LPC2294 Microcontrollers: NXP LPC2292およびLPC2294系列のマイクロコントローラとマイクロン非同期PSRAMデバイス間のシームレスなメモリ接続に必要なデザイン条件を説明します。
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TN-45-29
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06/2007
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テクニカルノート
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PSRAM 101:An Introduction to Micron CellularRAM and PSRAM: モバイル ハンドセットでの使用においてその他のメモリオプションと比較した場合のPSRAMおよびCellularRAMメモリのメリットを実演し、利用できるコンフィギュレーションを提供します。
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TN-45-30
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05/2008
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テクニカルノート
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Connecting Micron CellularRAM Devices with the Atmel Microcontroller: マイクロンCellularRAMデバイスをAmtelマイクロコントローラに接続する最適な方法を説明します。
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TN-45-33
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06/2008
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テクニカルノート
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IBIS Behavioral Models: マイクロンは長年IBISオープンフォーラムのメンバーであり、IBIS仕様を完全にサポートします。ほとんどのマイクロン社製品のIBISモデルはマイクロン社ウェブサイトからダウンロードできます。
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TN-00-07
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11/2009
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テクニカルノート
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Thermal Applications: マイクロンのコンポーネントおよびモジュールが最大許容温度を超えないようにするための一般方法や条件を定義します。
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TN-00-08
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05/2010
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テクニカルノート
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Understanding Quality and Reliability Requirements for Bare Die Applications: ベアダイ アプリケーションに必要とされる品質や信頼性を定義します。
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TN-00-14
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10/2009
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テクニカルノート
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Recommended Soldering Parameters: マイクロン テクノロジー製品に推奨されるはんだ付けテクニックやパラメータを定義します。
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TN-00-15
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03/2007
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テクニカルノート
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Uprating of Semiconductors for High-Temperature Applications: 温度の改良やコンポーネント使用にかかわるリスク、製造元の環境仕様外のシステムに関連する問題を説明します。
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TN-00-18
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05/2010
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テクニカルノート
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Understanding Signal Integrity: 新製品のコンセプトから製造中止を通じてメモリーデザインやテスト、確認ツールを最大限に利用する方法を説明します。
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TN-00-20
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12/2009
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1.52 MB
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テクニカルノート
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SEMI Wafer Map Format: マイクロン社では半導体製造装置材料協会 (SEMI) によって認証されたウェハマップ ファイル形式を採用しています。マイクロン社のお客様はSEMI形式によって一貫して互換性が高く、信頼できるマップファイルを常に受け取ることができます。
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TN-00-21
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02/2009
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テクニカルノート
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Thinning Considerations for Wafer Products: お客様の特定要件を満たす最適なウェハ細線化プロセスに関する情報です。
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TN-00-19
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10/2009
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テクニカルノート
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Hands-On Electronics Education: マイクロン社がDigilent社と提携し、低価格でありながパワフルなデジタルシステム デザイン ボードを開発したいきさつをお読みください。
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12/2009
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ケーススタディ
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PSRAM and CellularRAM Part Numbering System: マイクロンPSRAMおよびCellularRAM製品の部品番号ガイド。
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12/2008
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製品番号ガイド
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PCN/EOL Systems: マイクロン社製品の変更通知や製造中止システムについて説明します。
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CSN-12
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04/2012
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カスタマーサービスノート
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Wafer Packaging and Packaging Materials: マイクロン社製品の発送に使用される各材料についての配送およびリサイクルに関する総合情報を提供します。
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CSN-20
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09/2011
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カスタマーサービスノート
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Bare Die SiPs and MCMs: ベアダイSiPおよびMCMに対するデザインの考えを説明します。
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CSN-18
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04/2009
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カスタマーサービスノート
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Shipping Quantities: 部品数の表を提供します。
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CSN-04
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04/2012
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カスタマーサービスノート
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Micron KGD Definitions: マイクロン社製KGD-C1およびKGD-C2 DRAMダイのテスト仕様とパラメータを説明します。
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CSN-22
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07/2009
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カスタマーサービスノート
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Micron Component and Module Packaging: マイクロン社のパッケージラベルと手順について説明します。
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CSN-16
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02/2012
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カスタマーサービスノート
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ESD Precautions for Die/Wafer Handling and Assembly: 生産コストの削減に繋がる、作業環境においてESDを制御することのメリット(高い生産性や向上した品質と信頼性を含む)を説明します。
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CSN-24
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08/2010
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カスタマーサービスノート
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Electronic Data Interchange: EDI送信セット、プロトコルおよび問い合わせ先を説明します。
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CSN-06
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09/2005
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カスタマーサービスノート
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RMA Procedures for Packaged Product and Bare Die Devices: 標準の返品承認(RMA)手順と、ベアダイのRMAに関する違いをまとめています。
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CSN-07
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10/2010
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カスタマーサービスノート
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ISO System Management Standards: ISOシステム管理基準について説明します。
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CSN-08
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04/2004
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カスタマーサービスノート
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The Future of Memory and Storage: メインメモリとFlashメモリの傾向についての概要
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12/2009
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プレゼンテーション
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DRAM Component Part Numbering System: DDR3/DDR2/DDR/SDR SDRAM、 モバイルLPDRAMおよびRLDRAMコンポーネントの部品番号ガイド
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04/2012
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製品番号ガイド
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FBGA Date Codes: FBGA梱包済みコンポーネントの日付コード
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08/2005
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製品番号ガイド
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Moisture Absorption in Plastic Packages: Describes shipping procedures for preventing memory devices from absorbing moisture and recommendations for baking devices exposed to excessive moisture
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TN-00-01
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02/2010
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テクニカルノート
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Accelerate Design Cycles with Simulation Models: マイクロンでは、レイアウトの前に新しいデザインを確認するのに必要なツールとガイドラインを提供します。本テクニカルノートではソフトウェア モデルのサポート、シグナル インテグリティの最適化および倫理回路デザインについて説明します。
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TN-00-09
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02/2010
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テクニカルノート
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Micron Wire-Bonding Techniques: 本テクニカルノートでは、マイクロン社製品のニッケル パラジウム(NiPd)およびアルミニウム(Al)両方に対するワイヤボンディング テクニックのガイダンスを提供します。
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TN-00-22
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11/2010
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テクニカルノート
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Micron BGA Manufacturer's User Guide: 最新型および旧型両方のマイクロン社ボール グリッド アレイ(BGA)パッケージを製造プロセスに簡単に統合できる情報をお客様に提供します。通常のパッケージ関連および製造行程の実践を説明した高レベルなガイドラインと参照マニュアルがセットになっています。
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CSN-33
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07/2011
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カスタマーサービスノート
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Burst A/D MUX CellularRAM Memory Flyer: 低減されたピンカウントCellularRAMâ„¢メモリでデザイン時間を節約し、コストを削減する方法を説明します。
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08/2009
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製品広告チラシ
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Product Marks/Product and Packaging Labels: 製品の部品マーキングと製品およびパッケージラベルについて説明します。
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CSN-11
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04/2012
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カスタマーサービスノート
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Industrial and Multi-Market Applications Flyer: 自動車、産業、医療、製造およびその他の多数市場セグメントにおいて技術開発に拍車をかける当社の幅広く、安定したIMM集中型メモリソリューションのポートフォリオです。
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製品広告チラシ
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08/2011
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製品広告チラシ
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CellularRAM PSRAM Flyer: CellularRAM PSRAMがSRAMの理想的なドロップイン交換であることを説明します。
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08/2009
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製品広告チラシ
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Bypass Capacitor Selection for High-Speed Designs: 高速デザインに対するバイパス コンデンサの選択について説明します。
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TN-00-06
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03/2011
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テクニカルノート
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