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Thermal Applications: マイクロンのコンポーネントおよびモジュールが最大許容温度を超えないようにするための一般方法や条件を定義します。
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TN-00-08
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05/2010
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テクニカルノート
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Recommended Soldering Parameters: マイクロン テクノロジー製品に推奨されるはんだ付けテクニックやパラメータを定義します。
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TN-00-15
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03/2007
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テクニカルノート
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Uprating of Semiconductors for High-Temperature Applications: 温度の改良やコンポーネント使用にかかわるリスク、製造元の環境仕様外のシステムに関連する問題を説明します。
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TN-00-18
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05/2010
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テクニカルノート
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Understanding Signal Integrity: 新製品のコンセプトから製造中止を通じてメモリーデザインやテスト、確認ツールを最大限に利用する方法を説明します。
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TN-00-20
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12/2009
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テクニカルノート
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PCN/EOL Systems: マイクロン社製品の変更通知や製造中止システムについて説明します。
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CSN-12
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04/2012
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カスタマーサービスノート
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Wafer Packaging and Packaging Materials: マイクロン社製品の発送に使用される各材料についての配送およびリサイクルに関する総合情報を提供します。
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CSN-20
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09/2011
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カスタマーサービスノート
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Bare Die SiPs and MCMs: ベアダイSiPおよびMCMに対するデザインの考えを説明します。
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CSN-18
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04/2009
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カスタマーサービスノート
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Shipping Quantities: 部品数の表を提供します。
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CSN-04
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04/2012
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カスタマーサービスノート
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Micron KGD Definitions: マイクロン社製KGD-C1およびKGD-C2 DRAMダイのテスト仕様とパラメータを説明します。
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CSN-22
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07/2009
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カスタマーサービスノート
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Micron Component and Module Packaging: マイクロン社のパッケージラベルと手順について説明します。
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CSN-16
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02/2012
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カスタマーサービスノート
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ESD Precautions for Die/Wafer Handling and Assembly: 生産コストの削減に繋がる、作業環境においてESDを制御することのメリット(高い生産性や向上した品質と信頼性を含む)を説明します。
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CSN-24
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08/2010
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カスタマーサービスノート
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Electronic Data Interchange: EDI送信セット、プロトコルおよび問い合わせ先を説明します。
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CSN-06
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09/2005
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カスタマーサービスノート
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RMA Procedures for Packaged Product and Bare Die Devices: 標準の返品承認(RMA)手順と、ベアダイのRMAに関する違いをまとめています。
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CSN-07
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10/2010
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カスタマーサービスノート
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ISO System Management Standards: ISOシステム管理基準について説明します。
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CSN-08
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04/2004
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カスタマーサービスノート
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Moisture Absorption in Plastic Packages: Describes shipping procedures for preventing memory devices from absorbing moisture and recommendations for baking devices exposed to excessive moisture
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TN-00-01
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02/2010
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テクニカルノート
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Accelerate Design Cycles with Simulation Models: マイクロンでは、レイアウトの前に新しいデザインを確認するのに必要なツールとガイドラインを提供します。本テクニカルノートではソフトウェア モデルのサポート、シグナル インテグリティの最適化および倫理回路デザインについて説明します。
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TN-00-09
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02/2010
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テクニカルノート
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Introduction to On-Board Programming with Numonyx Flash Memory: This application note describes the strengths, limitations, programming methods, and design considerations for on-board programming of NOR Flash memory devices.
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AN-624
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11/2010
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テクニカルノート
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Simplify Manufacturing by Using Automatic-Test-Equipment for On-Board Programming: This document describes using automatic-test-equipment (ATE) to program Numonyx NOR Flash memory components on a PCB.
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AN-629
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11/2010
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テクニカルノート
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How to Migrate from the M95 SPI EEPROM to the M25PE SPI Serial Flash: This application note describes how to migrate from the M95 family of SPI EEPROMs to the M25PE family of SPI Serial Flash memories.
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AN-2081
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11/2010
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テクニカルノート
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Using XIP Modes in the Forte N25Q Flash Memory Device: This technical note explains how to implement eXecute in Place (XiP) functionality in an application based on the Numonyx Forte N25Q Flash memory device family.
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TN-12-07
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04/2011
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テクニカルノート
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How to Migrate from Numonyx M25P128 130nm to 65nm Serial Flash: This application note explains how to migrate an application based on the Numonyx M25P128 (130nm) to Numonyx M25P128 (65nm) serial Flash memory device.
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AN-309026
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11/2010
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テクニカルノート
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Micron Wire-Bonding Techniques: 本テクニカルノートでは、マイクロン社製品のニッケル パラジウム(NiPd)およびアルミニウム(Al)両方に対するワイヤボンディング テクニックのガイダンスを提供します。
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TN-00-22
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11/2010
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テクニカルノート
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Comparing Micron N25Q and Winbond W25Q Flash Devices: Tech Note Comparing Micron N25Q and Winbond W25Q Flash Devices
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TN-12-17
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07/2011
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テクニカルノート
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Comparing Micron N25Q and SST SST26WF Flash Devices: Tech Note Comparing Micron N25Q and SST SST26WF Flash Devices
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TN-12-16
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07/2011
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テクニカルノート
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Comparing Micron N25Q and Spansion S25FL Flash Devices: Technical Note Comparing Micron N25Q and Spansion S25FL Flash Devices
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TN-12-15
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07/2011
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テクニカルノート
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Comparing Micron N25Q and Macronix MX25L Flash Devices: Technical Note Comparing Micron N25Q and Macronix MX25L Flash Devices
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TN-12-14
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07/2011
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テクニカルノート
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Comparing Micron N25Q and M25PX Flash Devices: Tech Note Comparing Micron N25Q and M25PX Flash Devices
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TN-12-13
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07/2011
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テクニカルノート
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Comparing Micron N25Q and M25P Flash Devices: Tech Note Comparing Micron N25Q and M25P Flash Devices
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TN-12-12
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07/2011
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テクニカルノート
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Migrating from Atmel AT45DB011D to Micron M45PE10 Flash Devices: This technical note describes the process for migrating from the Atmel Serial NOR Flash Memory device (AT45DB011D) to the Micron Serial NOR Flash memory device (M45PE10).
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TN-12-09
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05/2011
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テクニカルノート
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Migrating N25Q 3V, 128Mb Device: This technical note explains how to migrate from the Micron® N25Q 3V, 128Mb parameter blocks serial NOR Flash device to the N25Q 3V, 128Mb uniform, subsector erase serial NOR Flash device.
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TN-12-10
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06/2011
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テクニカルノート
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Lead Frame Package User Guidelines: Discusses Micron's lead-frame package options
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CSN-30
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05/2011
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カスタマーサービスノート
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Micron BGA Manufacturer's User Guide: 最新型および旧型両方のマイクロン社ボール グリッド アレイ(BGA)パッケージを製造プロセスに簡単に統合できる情報をお客様に提供します。通常のパッケージ関連および製造行程の実践を説明した高レベルなガイドラインと参照マニュアルがセットになっています。
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CSN-33
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07/2011
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カスタマーサービスノート
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Migrating from Macronix MX25L25635E to Micron N25Q 256Mb Flash: Compares the features of the Macronix MX25L25635E and Micron N25Q (256Mb)Flash memory devices.
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TN-12-18
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12/2011
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テクニカルノート
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Product Marks/Product and Packaging Labels: 製品の部品マーキングと製品およびパッケージラベルについて説明します。
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CSN-11
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04/2012
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カスタマーサービスノート
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Flash Data Integrator (FDI) File System Flyer: Running on Micron's latest NOR Flash and phase change memory (PCM), our Flash Data Integrator (FDI) file system provides dependable storage to create a compelling, low-cost solution.In addition, FDI delivers a true eXecute-in-Place (XiP) advantage in an open architecture to manage code and data in NOR and PCM memory devices.
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09/2011
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Industrial and Multi-Market Applications Flyer: 自動車、産業、医療、製造およびその他の多数市場セグメントにおいて技術開発に拍車をかける当社の幅広く、安定したIMM集中型メモリソリューションのポートフォリオです。
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08/2011
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Compatibility Guide for Micron Software Device Drivers Available on micron.com: This document lists the compatible NOR, NAND, and PCM devices for the software device drivers available for download from micron.com.
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02/2012
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Serial NOR Flash Flyer: Whether you need to simplify your design with industry-standard features or develop a long-term solution for a legacy platform, our serial NOR Flash provides fast access times, secure data storage, and architectural flexibility for your product design requirements.
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02/2012
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Bypass Capacitor Selection for High-Speed Designs: 高速デザインに対するバイパス コンデンサの選択について説明します。
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TN-00-06
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03/2011
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テクニカルノート
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Password Protecting Flash Memory Blocks: This document describes a method of password protecting blocks using Micron's M29EW device as an example.
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TN-12-05
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03/2011
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テクニカルノート
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Software Device Drivers for Micron's N25Q Serial NOR Flash Memory: This technical note provides a description of the C library source code for Micron N25Q serial NOR Flash memory devices.
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TN-12-11
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02/2012
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テクニカルノート
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Migrating from Spansion's S25FL256S to Micron's N25Q 256Mb Flash: Compares features of Micron's 256Mb N25Q and Spansion's S25FL256S Flash memory devices
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TN-12-19
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04/2012
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テクニカルノート
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Migrating from Macronix's MX25L25635F to Micron's N25Q 256Mb Flash Device: Migrating from Macronix's MX25L25635F to Micron's N25Q 256Mb Flash Device
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TN-12-20
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05/2012
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254.43 KB
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テクニカルノート
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