車載用GDDR6は高信頼度システムの設計および試験を支援する

自動車産業は、車の設計・製造・運転方法において著しい変化を遂げながら、急速に発展しています。最も顕著なのが、自動車の安全性が半導体技術にかかわる安全性や信頼性に大きく影響を受けているという点です。システム・インテグレーターは、厳しい自動車環境の中で安全に動作できる頑丈なプラットフォームをつくるよう迫られています。この厳しい環境の中で機能的安全性を確保することは、譲ることのできない優先事項です。そして、自動車の仕様に関するコンプライアンスは当然のことですが、同時に、コンプライアンスだけでは不十分なものでもあります。そのため、インテグレーターは、これを保証するため、利用可能なすべてのツールを活用しなければならないのです。

GDDR6 SGRAMの標準機能としても利用可能な試験ツールの1つが、バンダリースキャンです。ICレベルで実装した場合、境界走査は、基盤(PCB)レベルで相互接続を試験する統合的方法となります。これまで、PCB相互接続試験は、基盤のプローブポイントと物理的接触を必要とするインサーキットテスターで行われてきました。シリコンプロセス、デバイスパッケージング、基盤搭載技術の発展により、高密度で最小ピッチの相互接続が可能になりました。この種の相互接続における試験用途の物理的接触は、不可能でないにしても、困難を要します。

高密度相互接続の試験における問題へのソリューションは、内部レジスタを通してデバイスへのアクセスを設計することで走査パスをつくることでした。1988年、境界走査の設計・プロトコルを標準化するためのJoint Test Action Group(JTAG、ジェイタグ)が発足しました。境界走査の要素は、デバイスの機能から独立しています。境界走査では、デバイスの有無、ボンディング、方向、相互接続完全性を確認することができます。

なぜ、境界走査を使用するのでしょうか?

  • IEEE 1149.1で標準化されています。そのため、異なるベンダーがミックス・アンド・マッチの互換性を持つコンポーネントを設計することが可能
  • ツールや試験ベンダーによる幅広い支援
  • PCBレイアウトの前に、設計・パッケージ分析の多くを行うことが可能
  • 高価な試験デバイスが不要
  • 製品開発、生産試験、デバイスのプログラミングを1つのツールに統合
  • 障害箇所の分離化

マイクロンの車載準拠型GDDR6 SGRAMデバイスは、各I/Oにある境界走査セルに加えて、IEEE 1149.1-2013準拠の試験アクセスポート(TAP)を統合しています。デバイスの2つのチャンネルそれぞれには、個別の試験を可能にする独自のTAPコントローラが付いています。車載向け信頼性においても重要なデバイス温度は、性能に影響することなく、ミッションモード運転と並行して、TAPコントローラを通した監視を行うことができます。

来る自動運転車の波に向け、機能的安全性の必要条件とそれに関連するメモリ帯域を満たすことは、難しい課題です。今までに想像もしたことの無いような機能へ向けて、マイクロンの車載準拠型GDDR6 SGRAMは、車載性能を新しいレベルへと押し上げています。性能に加え、マイクロンでは、高信頼度システムの設計と試験を支援するための機能にも、優先的に取り組んできました。機能的安全性の達成は、自動車の素晴らしい未来への扉を開く重要なカギの1つなのです。

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