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構造的なフォルト検出カバレッジ - ASIL-D準拠
ランダムなフォルト検出 - ASIL-D準拠
1マイクロン。インバンド/インラインECC（エラー訂正コード）、冗長化など、従来のASIL-D導入を想定しています。
ISO 26262の要件をお客様の製品ライフサイクルに含めることにより、所定のASIL水準への完全な準拠を実現します。革新的機能を含むマイクロンの安全性能最適化製品を選定することで、高い目標のFITレート／ASIL水準の達成に役立ちます。
このレポートは、マイクロンの製品における故障モード影響診断解析（FMEDA）手順の結果を要約しています。安全アプリケーションメモに添付された補足資料です。
このメモには、品質管理製品の統合を促進するために、製品の使用事例、最高水準の安全要件、故障モード、安全な状態と制約、AoU（Assumptions-of-Use）などが含まれています。
マイクロンは、クラスIIIのハードウェアエレメントとして製品を評価し、ISO 26262-5への準拠を実証するための代替手段で顧客をサポートします。 ハードウェア評価レポートの抜粋をダウンロードしてください。詳細なレポートは、秘密保持契約（NDA）に基づくリクエストにより提供可能です。
マイクロンは、先陣を切って安全性能をシリコンに組み込み、自律走行車両のエコシステムへの貢献に取り組んでいます。メリッサ・ウリベのポッドキャストをお聴きください。
今回は、マイクロンのシステムアーキテクトであるステファン・ブーフが、顧客が求めるメモリソリューション要件の要因や、自動車設計時にISO 26262で定義されたリスク分類スキームであるASIL (自動車安全水準)に対応する際の戦略について語ります。
WHITE PAPER
Automotive Megatrends and Their Impacts on Memory and StorageThe five automotive megatrends — autonomous, electrification, enriched cabins, connectivity and zonal architectures — are transforming the automotive industry with a significant impact on memory and storage requirements for use in vehicles. Read about the impact of the megatrends in our new white paper.
WHITE PAPER
DRAM in Safety Critical Automotive SystemsThis white paper details the evolution of automotive functional safety and explains how Micron's LPDDR5 SDRAM product family with ISO 26262 compliance meets the safety-critical requirements of today's high-tech automotive systems.
ARTICLE
Building Safety Into Automotive Silicon — Micron Is Leading the ChargeGiven our intimate understanding of the automotive market and the role and importance of memory in safety applications, Micron is pleased to announce our industry-leading portfolio of safety-based solutions.
BLOG
Automotive Memory: Quality vs. Functional Safety and Why It MattersThis blog is focused on two automotive safety concepts: quality and functional safety. Quality refers to the fundamental design of the product and the test and yield processes that ensure the product can achieve as close to zero defects as possible. Functional safety focuses on two aspects: systematic and random fault coverage.